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-- 梅特勒天平 --
超越XP系列分析天平
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XP 超越系列至尊型分析天平

最大称量值

可读性

XP105 DeltaRange 分析天平

120 g

0.01 mg / 0.1 mg

XP205 DeltaRange 分析天平

220 g

0.01 mg

XP205 分析天平

220 g

0.01 mg

XP204 分析天平

220 g

0.1 mg

XP504 DeltaRange 分析天平

520 g

0.1 mg / 1 mg

XP504 分析天平

520 g

0.1 mg / 1 mg

梅特勒 METTLER超越至尊型系列分析天平
  超越系列至尊型--至高称量性能 ,内置质量管理工具,实现法规一致性
必须符合强制性行业规范 (e.g. FDA, USP, GxP)
需要用最小量的样品进行非常精确的称量
称量结果的确定性至关重要
数据和过程安全是关键
需要独立的用户界面和访问权限
称量有毒或带有静电的样品
实现操作人员的至高安全性
最大称量值和可读性: 520 g x 0.1 mg ; 220 g x 0.01 mg
应用: 显示各种称量单位 ; 配方称量; 百分比称量; 计件称量; 统计功能; 自由因子; 密度测定; 差重称量
可选: 移液器校准
  XP105 DeltaRange 分析天平
 

最大称量值

120 g

可读性

0.01 mg / 0.1 mg

Minimum weigh (typical acc. USP)

21 mg

Minimum weigh (typical, U=1%, sd=2)

8mg+2x10-5·Rgr

去皮范围

0...120 g

重复性

0.015 mg / 0.05 mg

线性

0.15 mg

偏心负载

0.2 mg

内部砝码校准

ProFACT专业全自动校准技术专业级全自动校准技术, 温度漂移和时间触发的全自动内校

外部砝码校准

用户砝码

Sensitivity offset

4x10-6·Rnt

灵敏度(温度取样泵漂移)

1x10-6/°C·Rnt

灵敏度(长时间稳定)

1x10-6/a·Rnt

稳定时间

2.5 s / 1.5 s

接口

RS-232C

尺寸

263x487x322 mm (WxDxH)

防风罩可用高度

235 mm

秤盘尺寸

78 x 73 mm

标准特性:
SmartSens,无需用手接触的天平操作
SmartGrid,革新性的网格秤盘
SmartScreen彩色显示屏,触摸屏实现舒适的操作
ErgoClips易巧称量组件,可以安全放置所有去皮容器
LevelControl 天平未被置平时发出警告
自动且可拆卸的防风罩
ProFACT专业全自动校准技术
RS232 通讯接口
第二接口选件插槽 多种不同接口可供选择
高度可调的内部防风罩
塑料保护罩
下挂称量的专用挂钩
可分离且可调节的操作终端
  特征
SmartGrid: 不寻常的称量特性,革新性的网格秤盘,将室内空气气流干扰降至最低.实现最快的称量结果显著降低天平的稳定时间.
SmartSens: 实现无需用手接触的天平操作. 操作人员可以全神贯注的进行样品的安全处理, 避免溢出, 并将污染的风险最小化.
SmartSens红外感应器:SmartScreen彩色触摸显示屏,引导用户正确操作,触摸屏技术使得称量操作异常便捷.
LevelControl:天平未被置平时发出警告,始终保证结果的准确性.
连通性:灵活的通讯接口 – 包括以太网,蓝牙(无线连通)和PS/2-高效率地采集数据和简单地整合入网络。
去静电装置(可选):有效的中和样品吸附的静电荷从而避免样品的污染.
 

利用天平进行密度测定---使用浮力法进行密度测定
在许多领域使用密度测定来辨别产品或材料的某些特性。 密度测定应用不仅为数众多,而且常常与许多具体要求有关。梅特勒-托利多公司提供了各种硬件和软件选件,通过使用比重测定法来测定密度。

密度测定借助于阿基米德原理 (浮力法)来实现的, 这也是天平的密度测定组件使用的方法。阿基米德原理规定:浸在液体中的物体会明显的失重,失重量等于物体排开的液体的重量。这种方法可以测定固体、粘性和粘稠物质以及液体的密度。
天平的密度测定组件

天平的密度测定组件使测定过程的两个步骤变的简捷而有效。
该密度组件包含:

用于液体的玻璃容器,和容器支架。
用于漂浮或浸没固体的无腐蚀支架等等。
通过简单地更换用于密度组件的XP或XS天平的秤盘,即可立即测定固体和液体的密度。密度测定组件可以测定固体、多孔固体, 粘性和粘稠物质以及液体的密度。

您可以利用XP和XS天平的软件计算和记录密度值。您可以将测试结果传送到计算机,或者用打印机进行打印输出。在任何一种情况下, 浮力法测定密度比较简单,并可以应用在普通天平上。

集成密度软件解决方案
XP和XS天平具有内置密度测定应用程序,可以用来测定固体、多孔样品和粘稠物质以及液体的密度。

能以0.1%的精度输入温度
样品标识
输入液体密度测量块的体积
随温度变化而变化的乙醇和水的集成密度表
以7种语言 (en, de, fr, it,es, ja, ru)进行记录
天平显示屏上清晰的菜单指导
对每种测量方法的独立统计
快速、简单、方便地处理
再现性高达0.001 g/cm3

 
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