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SC-E大米外观品质分析仪 (0篇用户评论|写评论)
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SC-E大米外观品质分析仪-大米和种子外观品质检测自动分析仪

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用于实验室内自动分析大米和种子外观形状,自动分析评价各类大米(籼米、粳米、糯米、丝苗米,特种米、有机米等)、各类种子(玉米、大小麦、谷粒、豆类、瓜果籽、蔬菜种子、小米、芝麻、花种子,以及极细小的拟南芥籽等)。能自动分析出大米的:粒形(直径、长度、宽度、长宽比、面积)、整精米数量、整精米率、透明度、碾精度、垩白率、垩白度、千粒重、碎米率、黄粒米、病斑或黄变率、霉变率、不完善率(未成熟粒、杂质),以及糯米的阴米率等。与国标GB/T1350稻谷、GB/T17891优质稻谷或GB1354大米相对应,能检测各项指标的重量比和粒数比。还可快速进行稻种等的考种计数。可自动分析玉米在棒截面、粒形上的各参数。广泛适用于种子、品种质量监管和品种选育相关的研究部门,提高工作效率。

SC-E型种子大米外观品质检测分析仪性能优点:

1)专有的向导学习,使非专业者快速上手。能准确地自动分割团状粘连的种子图像,自动计数精度≥99%,监视修正<1%,即达100%正确。

2)适应检测种粒直径0.2520mm,计数速度为20300/s

3)可裁剪掉污染目标区,能根据种子形态、大小差别,自动剔除杂质等,并导出为EXCEL表以便形成统计分布图。

4)可任意组合的批操作向导,实现一键自动完成计数。清晰、可直观验证的计数自动标记,可自由选择标记数字/符号,及标记的颜色、大小。

5)种子图像、检验结果可保存或导出到EXCEL表,满足日常搜索、管理的需要;可存储种子图像及全部统计结果,免除了繁琐的记录工作,避免错误。

6)提供条码输入接口,插上条码枪即可输入条码。保证左月性能前提下,不仅提供z优秀产品,还提供z优解决方案,让您满意。

万深SC-E型种子大米外观品质检测分析仪技术参数:

 1.快速形态分析:40秒内自动精准分析测出25g稻谷、30g大米、40g小麦、80150g玉米或豆类等种子的每粒面积、长径、短径、长宽比、圆度、等效直径(长度测量误差≤±0.05mm,长宽比测量误差≤±0.05,重现性误差≤±0.02),以及千粒重、整精米数量、整精米率(30g样本的测量误差≤±1.0%,重现性误差≤±0.25%)、30g样本的大米垩白度/率测量误差≤±1.0%、重现性误差≤±0.25%,自动检测碎米率、透明度、异品种粒、不完善粒(未成熟粒、黄粒米、杂质量),以及糯米的阴米率、病斑或黄变率。还可分析大米的碾米精度、裂纹率,以及糙米胚芽率。与国标GB/T1350稻谷、GB/T17891优质稻谷或GB1354大米相对应,能检测各项指标的重量比和粒数比。

2.具可测量种粒直径范围0.3-20mm(z大厚度15 mm),自动测量精度≥99%,交互修正后准确率达100%,计数分析速度120018000粒种子/分钟。每次扫描能成像30克大米等颗粒,将种子图像全部扫描到一个目录下,选合适的【批量处理】向导自动完成分析与结果输出。48分钟能全自动检测分析727个被测大米样品图像(其总量达727*30g=21810g),保存到EXCEL表内,并保留标记图。稻种等的考种计数和秕谷粒分析正确率,经极快速地可视化验证后,可达100%正确。自动分析性能在国内外可比较的公开PK中处于领先水平。

3.具具有对被分析目标颜色、形状进行自动学习,并实现自动分类的特性。可进行人工修正下的二次自动学习,达到专家级的分析水平。可任意组合的批操作向导,实现一键自动完成计数与各项分析、标记,并实现鼠标增减统计、区域选择统计、辅助裁剪修正、种子大米的粘连分割、输入重量后自动换算取得千粒重 等;可裁剪或擦除掉污染目标区,删除任意区域内的误选种子。可合并误分割,及对自动识别后的黄米粒和其它目标做类别转换修正。

4.具有样本条码、电子天平RS232重量数据的自动输入接口,电脑插上条码枪即可刷入样本编号;在电子天平加上被测样本,一旦稳定即出重量数据和千粒重数据,不需按天平的打印键。能折算掉混入的秕谷重量,自动算出实粒千粒重。能自动测出参数比较特别玉米穗长、穗粗、秃尖长、左右穗缘角、穗行角、平均粒高、粒数、粒形、截面籽粒排数、穗粗、轴粗,以及截面上的平均粒长、平均粒宽参数等。还能测叶片的经脉密度。

5.统计效果监视:监视和修正种子、大米分析的精度。

6.形状识别统计:根据种子大米的形状特性筛选,分别分析特定对象的参数。

7.种子及大米粘连分割:自动分割相互粘连的种子及大米,用户可选择分割或不分割。

8.自动杂质剔除:根据尺寸等方面的区别,自动剔除微小杂质。

9.参数自动换算:输入重量后自动换算出实粒的千粒重。

10.测量功能:

尺寸标定:自带标定功能,实现半自动的尺寸标定,XY向可分别标定修正;

长度测量:具有跟随放大镜功能,通过鼠标拖动精确测量;

可以单独进行目标的长度测量。

11.数据存储:图像可保存(可保留原图/结果图);自动形成总报表,统计分析结果能输出至Excel表;

万深SC-E型种子大米外观品质检测分析仪仪器规格与配置:

大米分析专配光学分辨率4800×9600A4加长的Microtek ScanMaker i800真彩双光源扫描仪(电脑另配);

对于考种分析,建议加配快速拍照成像装置、带RS232接口的电子天平

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